• О компании
  • Новости
  • ...
    117628, г. Москва, вн. тер. г. муниципальный округ Северное Бутово, ул. Куликовская, д. 12, помещ. 22/5 (офис 634)
    +7 (495) 956-20-22
    Заказать звонок
    Компания «CDIP» - поставки испытательного и измерительного оборудования
    Компания
    • О компании
    • Реквизиты
    • Производители
    Каталог
    • Измерительное оборудование
      • Анализаторы качества электроснабжения
      • Анализаторы полупроводников
      • Анализаторы спектра/сигнала
      • Анализаторы фазового шума
      • Анализаторы чистоты воздуха
      • Анализаторы электрических цепей
      • Антенные устройства
      • Виброанализаторы
      • ВЧ-вольтметры
      • Генераторы сигналов
      • Измерители LCR
      • Измерители коэффициента шума
      • Измерители мощности
      • Измерители сопротивления заземления
      • Измерительные аттенюаторы
      • Измерительные приемники
      • Имитаторы сигналов GPS и ГЛОНАСС
      • Калибраторы
      • Логические анализаторы
      • Мегаомметры
      • Мультиметры
      • Осциллографы
      • Пирометры
      • РЧ компоненты
      • Тахометры
      • Термометры
      • Тестеры авионики
      • Тестеры аккумуляторных батарей
      • Тестеры АФУ
      • Тестеры радиосвязи
      • Тестеры фотоэлектрических систем
      • Тестеры электробезопасности
      • Тестирование сетей WPAN/WLAN/4G/5G
      • Токосъемники
      • Усилители мощности
      • Частотомеры
      • Эквиваленты сети LISN
      • Источники питания
      • Принадлежности
      • Ещё
    • Испытательное оборудование
      • Акустические комплексы
      • Анализ материалов и свойств поверхности
      • Вибрационные установки
      • Испытания материалов на прочность
      • Испытания на падение и линейные ускорения
      • Испытательные ударные стенды
      • Климатические камеры
      • Системы измерения, оптический и видеоизмерительный контроль
      • Установки качки и длительных наклонов
    • Оборудование для испытаний на ЭМС
      • Безэховые и экранированные камеры
      • Генераторы кондуктивных помех
      • Генераторы магнитных полей
      • Генераторы электростатических разрядов
      • Генераторы ЭМС-воздействий
      • Мультифункциональные ЭМС-генераторы
      • Оптические передатчики
      • Системы видеонаблюдения
      • Системы для испытаний авиационной техники
      • Системы для испытаний автомобильной техники
    • Тестирование оптоволокна
      • Анализаторы качества электроснабжения
      • Мегаомметры
      • Мониторинг ВОЛС
      • Оптические аттенюаторы
      • Оптические рефлектометры
      • Инструменты для работы с оптоволокном
    • Технологическое оборудование
      • Обрабатывающие центры
    • Спутниковое оборудование
      • Малошумящие усилители
      • Преобразователи частоты
      • Спутниковые модемы
      • Усилители мощности
      • Устройства синхронизации времени
    Производители
    Новости
    Контакты
      Компания «CDIP» - поставки испытательного и измерительного оборудования
      Компания
      • О компании
      • Реквизиты
      • Производители
      Каталог
      • Измерительное оборудование
        • Анализаторы качества электроснабжения
        • Анализаторы полупроводников
        • Анализаторы спектра/сигнала
        • Анализаторы фазового шума
        • Анализаторы чистоты воздуха
        • Анализаторы электрических цепей
        • Антенные устройства
        • Виброанализаторы
        • ВЧ-вольтметры
        • Генераторы сигналов
        • Измерители LCR
        • Измерители коэффициента шума
        • Измерители мощности
        • Измерители сопротивления заземления
        • Измерительные аттенюаторы
        • Измерительные приемники
        • Имитаторы сигналов GPS и ГЛОНАСС
        • Калибраторы
        • Логические анализаторы
        • Мегаомметры
        • Мультиметры
        • Осциллографы
        • Пирометры
        • РЧ компоненты
        • Тахометры
        • Термометры
        • Тестеры авионики
        • Тестеры аккумуляторных батарей
        • Тестеры АФУ
        • Тестеры радиосвязи
        • Тестеры фотоэлектрических систем
        • Тестеры электробезопасности
        • Тестирование сетей WPAN/WLAN/4G/5G
        • Токосъемники
        • Усилители мощности
        • Частотомеры
        • Эквиваленты сети LISN
        • Источники питания
        • Принадлежности
        • Ещё
      • Испытательное оборудование
        • Акустические комплексы
        • Анализ материалов и свойств поверхности
        • Вибрационные установки
        • Испытания материалов на прочность
        • Испытания на падение и линейные ускорения
        • Испытательные ударные стенды
        • Климатические камеры
        • Системы измерения, оптический и видеоизмерительный контроль
        • Установки качки и длительных наклонов
      • Оборудование для испытаний на ЭМС
        • Безэховые и экранированные камеры
        • Генераторы кондуктивных помех
        • Генераторы магнитных полей
        • Генераторы электростатических разрядов
        • Генераторы ЭМС-воздействий
        • Мультифункциональные ЭМС-генераторы
        • Оптические передатчики
        • Системы видеонаблюдения
        • Системы для испытаний авиационной техники
        • Системы для испытаний автомобильной техники
      • Тестирование оптоволокна
        • Анализаторы качества электроснабжения
        • Мегаомметры
        • Мониторинг ВОЛС
        • Оптические аттенюаторы
        • Оптические рефлектометры
        • Инструменты для работы с оптоволокном
      • Технологическое оборудование
        • Обрабатывающие центры
      • Спутниковое оборудование
        • Малошумящие усилители
        • Преобразователи частоты
        • Спутниковые модемы
        • Усилители мощности
        • Устройства синхронизации времени
      Производители
      Новости
      Контакты
        Компания «CDIP» - поставки испытательного и измерительного оборудования
        0
        • Компания
          • Назад
          • Компания
          • О компании
          • Реквизиты
          • Производители
        • Каталог
          • Назад
          • Каталог
          • Измерительное оборудование
            • Назад
            • Измерительное оборудование
            • Анализаторы качества электроснабжения
            • Анализаторы полупроводников
            • Анализаторы спектра/сигнала
            • Анализаторы фазового шума
            • Анализаторы чистоты воздуха
            • Анализаторы электрических цепей
            • Антенные устройства
            • Виброанализаторы
            • ВЧ-вольтметры
            • Генераторы сигналов
            • Измерители LCR
            • Измерители коэффициента шума
            • Измерители мощности
            • Измерители сопротивления заземления
            • Измерительные аттенюаторы
            • Измерительные приемники
            • Имитаторы сигналов GPS и ГЛОНАСС
            • Калибраторы
            • Логические анализаторы
            • Мегаомметры
            • Мультиметры
            • Осциллографы
            • Пирометры
            • РЧ компоненты
            • Тахометры
            • Термометры
            • Тестеры авионики
            • Тестеры аккумуляторных батарей
            • Тестеры АФУ
            • Тестеры радиосвязи
            • Тестеры фотоэлектрических систем
            • Тестеры электробезопасности
            • Тестирование сетей WPAN/WLAN/4G/5G
            • Токосъемники
            • Усилители мощности
            • Частотомеры
            • Эквиваленты сети LISN
            • Источники питания
            • Принадлежности
          • Испытательное оборудование
            • Назад
            • Испытательное оборудование
            • Акустические комплексы
            • Анализ материалов и свойств поверхности
            • Вибрационные установки
            • Испытания материалов на прочность
            • Испытания на падение и линейные ускорения
            • Испытательные ударные стенды
            • Климатические камеры
            • Системы измерения, оптический и видеоизмерительный контроль
            • Установки качки и длительных наклонов
          • Оборудование для испытаний на ЭМС
            • Назад
            • Оборудование для испытаний на ЭМС
            • Безэховые и экранированные камеры
            • Генераторы кондуктивных помех
            • Генераторы магнитных полей
            • Генераторы электростатических разрядов
            • Генераторы ЭМС-воздействий
            • Мультифункциональные ЭМС-генераторы
            • Оптические передатчики
            • Системы видеонаблюдения
            • Системы для испытаний авиационной техники
            • Системы для испытаний автомобильной техники
          • Тестирование оптоволокна
            • Назад
            • Тестирование оптоволокна
            • Анализаторы качества электроснабжения
            • Мегаомметры
            • Мониторинг ВОЛС
            • Оптические аттенюаторы
            • Оптические рефлектометры
            • Инструменты для работы с оптоволокном
          • Технологическое оборудование
            • Назад
            • Технологическое оборудование
            • Обрабатывающие центры
          • Спутниковое оборудование
            • Назад
            • Спутниковое оборудование
            • Малошумящие усилители
            • Преобразователи частоты
            • Спутниковые модемы
            • Усилители мощности
            • Устройства синхронизации времени
        • Производители
        • Новости
        • Контакты
        • Главная
        • Продукты
        • Измерительное оборудование
        • Частотомеры
        • Keysight 53220A

        Keysight 53220A

        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        • Keysight 53220A
        Keysight Technologies
        Универсальный частотомер/таймер Keysight 53220A с диапазоном частот от 0 до 15 ГГц
        Подробнее
        В корзину В корзине
        Запросить предложение
        • Описание
        • Характеристики
        • Документы
        • Опции
        • Модели
        Описание

        Двухканальный универсальный частотомер/таймер Keysight 53220A с диапазоном частот 350 МГц обеспечивает все необходимые возможности по измерению частоты и временных интервалов. Для измерения частоты в диапазоне до 6 ГГц или до 15 ГГц может быть добавлен дополнительный СВЧ канал.

        Ключевые возможности и технические характеристики

        • Два входных ВЧ канала (350 МГц) плюс третий дополнительный СВЧ канал (6 ГГц или 15 ГГц)
        • Разрешение 12 разрядов в секунду при измерении частоты, 100 пс при измерении временных интервалов
        • Интерфейсы LXI-C/LAN, USB, GPIB
        • Встроенные функции для математического анализа данных, цветной графический дисплей (графики тренда и гистограмма)
        • Дополнительная литий-ионная батарея
        Характеристики
        Input Channel Characteristics
        Input characteristics (nom) 53210A 53220A 53230A
        Channels
        Standard (DC - 350 MHz) Ch 1 Ch 1 & Ch 2
        Optional (6 or 15 GHz) Ch 2 Ch 3
        Standard inputs (nom)
        Frequency range
        DC coupled DC (1 mHz) to 350 MHz (2.8 ns to 1000 sec)
        AC coupled, 50 Ω1 or 1 MΩ 10 Hz - 350 MHz  
        Input    
        Connector  Front panel BNC(f). Option 201 adds parallel rear panel BNC(f) inputs2
        Input impedance (typ) Selectable 1 MΩ ± 1.5% or 50 Ω ± 1.5% || <25 pF
        Input coupling Selectable DC or AC
        Input filter Selectable 100 kHz cut-off frequency low pass  10 Hz (AC coupling) cut-off frequency high pass filter
        Amplitude range
        Input range ±5 V (±50 V) full scale ranges
        Sensitivity3,4 (typ) DC - 100 MHz: 20 mVpk > 100 MHz: 40 mVpk
        Noise3 500 μVrms (max), 350 μVrms (typ)
        Input event thresholds  
        Threshold levels  ±5 V (±50 V) in 2.5 mV (25 mV) steps
        Noise reject4 Selectable On/ Off
        Slope Selectable Positive or Negative
        Auto-scale Acquires signal for current measurement channel, selects range (5 V or 50 V), sets auto-level 50%
        Auto-level Selectable On or Off  On: Sets auto-level (% of Vpp) operation  Occurs once for each INIT or after a timeout.  Measures signal Vpp and sets Trigger level to 50%  Off: Selectable user set level (Volts)
        Minimum signal frequency for  auto level User selectable (Slow (50 Hz), Fast (10 kHz))
        Minimum signal for auto level 300 mVpp
        Maximum input
        50 Ω damage level 1 W
        50 Ω protection threshold Will not activate below 7.5 Vpk  50 Ω internal termination auto-protects by switching to 1 M Ω
        1 M Ω damage level DC - 5 kHz: 350 Vpk (AC + DC)  5 kHz - 100 kHz: Derate linearly to 10 Vpk (AC + DC)  >100 kHz: 10 Vpk (AC + DC)
        Optional microwave inputs (nom)
        Frequency range
        Option 106 100 MHz - 6 GHz
        Option 115 300 MHz - 15 GHz
        Input
        Connector Front panel precision Type-N(f)  Option 203 moves the input connector to a rear panel SMA(f)
        Input impedance (typ) 50 Ω ± 1.5% (SWR < 2.5)
        Input coupling AC
        Continuous wave amplitude range
        Option 106 Autoranged to +19 dBm max. (2 Vrms)
        Option 115 Autoranged to +13 dBm max. (1.0 Vrms)
        Sensitivity (typ)1 2 3 4 5 6 GHz (Opt 106): -27 dBm (10 mVrms)  15 GHz (Opt 115):  < 3 GHz: -23 dBm  3 - 11 GHz: -27 dBm > 11 GHz: -21 dBm
        Input event thresholds
        Level range Auto-ranged for optimum sensitivity and bandwidth
        AM tolerance6 50% modulation depth
        Maximum input
        Damage level 6 GHz (Opt 106): > +27 dBm (5 Vrms)  15 GHz (Opt 115): > +19 dBm (2 Vrms)
        1. AC coupling occurs after 50 Ω termination.
        2. When ordered with optional rear terminals, the standard/baseband channel inputs are active on both
        the front and rear of the universal counter though the specifications provided only apply to the rear terminals.
        Performance for the front terminals with rear terminals installed is not specified.

        3. Multiply value(s) by 10 for the 50 V range.
        4. Stated specification assumes Noise Reject OFF.
        Noise Reject ON doubles the sensitivity minimum voltage levels.

        5. Assumes sine wave.
        6. CW only. Assumes AM Rate > 10/gate.
        For Option 106, spec applies for input powers > -20 dBm; use a tolerance of 15% modulation depth for frequencies less than 900 MHz.
        For Option 115, spec applies for input powers > -10 dBm. 
        Measurement Characteristics
        53210A 53220A 53230A
        Measurement range (nom)
        Frequency, period (average) measurements
        Common
        Channels Ch 1 or optional Ch 2 Ch 1, Ch 2 or optional Ch 3
        Digits/s 10 digits/s 12 digits/s 12 digits/s
        Maximum display Resolution1 12 digits 15 digits 15 digits
        Measurement technique Reciprocal Reciprocal and resolution  enhanced Reciprocal, resolution-  enhanced or continuous  (gap-free)
        Signal type Continuous Wave (CW) CW and pulse/burst
        Level & slope Automatically preset or user selectable
        Gate Internal or external
        Gate time2 1 ms to 1000 s in 10 μs steps 100 μs to 1000 s in 10 μs steps 1 μs to 1000 s in 1 μs steps
        Advanced gating3 N/A Start delay (time or events) and stop hold-off (time or events)
        FM tolerance ± 50%
        Frequency, period
        Range9 DC (1 mHz) to 350 MHz (2.8 ns to 1000 s)
        Microwave input (optional) Option 106 - 100 MHz to 6 GHz (166 ps to 10 ns)  Option 115 - 300 MHz to 15 GHz ( 66 ps to 3.3 ns)
        Frequency ratio4
        Range 1015 Displayable range
        Timestamp/modulation domain
        Sample rate5 N/A N/A 1 MSa/s, 800 kSa/s,  100 kSa/s, 10 kSa/s
        #Edges/timestamp N/A N/A Auto-acquired per acquisition
        Acquisition length N/A N/A up to 1 MSa or  100,000 s (max)
        Time interval (single-shot) measurements11
        Common
        Channels N/A Ch 1 or 2
        Single-shot time resolution N/A 100 ps 20 ps
        Gating N/A Internal or external gate  Start delay (time or events) and stop hold-off (time or events)
        Slope N/A Independent start, stop slopes
        Level N/A Independent start, stop slopes
        Channel-to-channel time skew (typ) N/A 100 ps 50 ps
        53210A 53220A 53230A
        Time interval A to B, B to A
        Range9 N/A -1 ns to 100,000 s (nom)  -0.5 ns to 100,000 s (min)
        Time interval A or B
        Range N/A 2 ns to 100,000 s (min)
        Minimum width N/A 2 ns
        Minimum edge repetition rate N/A 6 ns
        Level & slope N/A Auto-level or user selectable
        Single-period, pulse-width, rise time, fall time
        Range N/A 0 s to 1000 s
        Minimum width N/A 2 ns
        Minimum edge repetition rate N/A 6 ns
        Level & slope N/A Auto-level or user selectable
        Duty
        Range N/A .000001 to .999999 or 0.0001% to 99.9999%
        Minumim width N/A 2 ns
        Level & slope N/A Auto-level or user selectable
        Phase A to B, B to A
        Range6 N/A -180.000° to 360.000°
        Totalize measurements
        Channels N/A Ch 1 or Ch 2
        Range9 N/A 0 to 1015 events
        Rate N/A 0 - 350 MHz
        Gating N/A Continuous, timed, or external gate input  Gate accuracy is 20 ns
        Level measurements
        Voltage level - standard input channels ±5.1 Vpk with 2.5 mV resolution or ±51 Vpk with 25 mV resolution
        Microwave power level (microwave channel option) 0 to 4 relative signal power
        53210A 53220A 53230A
        6 GHz (Option 106) 15 GHz (Option 115)
        Pulse/burst frequency and pulse envelope detector 12
        Pulse/burst measurements N/A N/A Carrier frequency, carrier period, pulse repetition interval (PRI), pulse repetition frequency (PRF), positive and negative width
        Pulse/burst width  for carrier frequency  measurements10 N/A N/A > 200 ns  Narrow: < 17 μs  Wide: > 13 μs > 400 ns  Narrow: < 17 μs  Wide: > 13 μs
        Minimum pulse/burst width for envelope measurements N/A N/A > 50 ns > 100 ns
        Acquisition N/A N/A Auto, Manual7
        PRF, PRI range N/A N/A 1 Hz - 10 MHz 1 Hz - 5 MHz
        Pulse detector response time (typ)8 N/A N/A 15 ns rise/fall 40 ns rise/fall
        Pulse width accuracy N/A N/A 20 ns + (2*carrier period) 75 ns
        Power ratio (typ) N/A N/A > 15 dB
        Power range and sensitivity (sinusoidal) (typ) N/A N/A +13 dBm (1 Vrms) to -13 dBm (50 mVrms) < 3 GHz: +7 dBm (500 mVrms) to -6 dBm (115 mVrms)  3 - 11 GHz: +9 dBm (630 mVrms) to -8 dBm (90 mVrms)  > 11 GHz: +7 dBm (500 mVrms) to -6 dBm (115 mVrms)
        1. Maximum display resolution for frequency and period.
        Totalize display resolution is 15 digits, time interval based measurements are 12 digits.

        2. Continuous, gap-free measurements limits the gate time setting to 10 µs to 1000 s in 10 µs steps.
        3. Refer to the gate characteristics section for more details on advanced gate capabilities.
        4. Measurements on each input channel are performed simultaneously using one gate interval.
        The actual measurement gate interval on each channel will be synchrounous with edges of each input signal.

        5. Maximum sample rate.
        Actual sample rate will be limited by the input signal edge rate for signals slower than the selected sample rate.
        Maximum timestamp rate offers minimal FM tolerance.
        If high FM tolerance is required, use lower timestamp rates.

        6. Assumes two frequencies are identical, only shifted in phase.
        7. Manual control of gate width and gate delay are allowed only for wide pulsed mode.
        8. For pulsed signals > -7 dBm (100 mVrms) while gated on.
        9. For totalize, time interval and frequency measurements, you may get measurement readings beyond the range stated,
        but the accuracy of those readings is not specified.

        10. Applies when burst width * Carrier Freq > 80.
        11. Specifications apply if measurement channels are in 5 V range, DC coupled, 50 Ω terminated and at fixed level for:
        time interval single and dual channel, pulse width, duty, phase, single period and rise/fall time measurements.

        12. Microwave pulse/burst measurement descriptions:
        Gate, Trigger and Timebase Characteristics
        53210A 53220A 53230A
        Gate characteristics (nom)
        Gate
        Source Time, external Time, external or advanced
        Gate time (step size) 1 1 ms - 1000 s (10 μs) 100 μs - 1000 s (10 μs) 1 μs - 1000 s (1 μs)
        Advanced: gate start
        Source N/A Internal or external, Ch 1/Ch 2 (unused standard channel input)
        Slope N/A Positive or negative
        Delay time1 N/A 0 s to 10 s in 10 ns steps
        Delay events (edges) N/A 0 to 108 for signals up to 100 MHz
        Advanced: gate stop hold-off
        Source N/A Internal or external, Ch 1/Ch 2 (unused standard channel input)
        Slope N/A Positive or negative
        Hold-off time1 N/A Hold-off Time settable from 60 ns to 1000 s
        Hold-off events (edges) N/A 0 to 108 (minimum width (positive or negative) > 60 ns)
        External gate input characteristics (typ)
        Connector Rear panel BNC(f)  Selectable as external gate input or gate output signal
        Impedance 1 kΩ when selected as external gate input
        Level TTL compatible
        Slope Selectable positive or negative
        Gate to gate timing 3 μs gate end to next gate start
        Damage level < -5 V, > +10 V
        Gate output characteristics (typ)
        Connector Rear panel BNC(f)  Selectable as external gate input or gate output signal
        Impedance 50 Ω when selected for gate output
        Level TTL compatible
        Slope Selectable positive or negative
        Damage level < -5 V, > +10 V
        Trigger and Timebase Characteristics (nom)
        53210A 53220A 53230A
        Trigger characteristics (nom)
        General
        Trigger source Internal, external, bus, manual
        Trigger count 1 to 1,000,000
        Trigger delay 0 s to 3600 s in 1 μs steps
        Samples/trigger 1 to 1,000,000
        External trigger input (typ)
        Connector Rear panel BNC(f)
        Impedance 1 kΩ
        Level TTL compatible
        Slope Selectable positive or negative
        Pulse width > 40 ns min
        Latency2 Frequency, period: 1 μs + 3 periods time interval, totalize: 100 ns
        External trigger rate 300/s max 1 k/s max 10 k/s max
        Damage level < -5 V, > +10 V
        Timebase characteristics (nom)
        Timebase reference Internal, external, or auto
        Timebase adjustment method Closed-box electronic adjustment
        Timebase adjustment  resolution 10-10 (10-11 for Option 010 U-OCXO timebase)
        External timebase input (typ)
        Impedance 1 kΩ AC coupled
        Level (typ) 100 mVrms to 2.5 Vrms
        Lock frequencies 10 MHz, 5 MHz, 1 MHz
        Lock range ±1 ppm (±0.1 ppm for Option 010 U-OCXO timebase)
        Damage level 7 Vrms
        Timebase output (typ)
        Impedance 50 Ω ± 5% at 10 MHz
        Level 0.5 Vrms into a 50 Ω load  1.0 Vrms into a 1 kΩ load
        Signal 10 MHz sine wave
        Damage level 7 Vrms
        1. Continuous, gap-free measurements limits the Gate Time setting to 10 µs to 1000 s in 10 µs steps.
        2. Latency does not include delays due to auto-leveling.
        Math, Graphing and Memory Characteristics (nom)
        53210A 53220A 53230A
        Math operations
        Smoothing (averaging) 1 Selectable 10 (slow), 100 (medium), 1,000 (fast) reading moving average  Selectable filter reset .1% /1000 ppm (fast), .03%∕300 ppm (medium), .01%∕100 ppm (slow) change from average
        Scaling mX-b or m(1/X)-b  User settable m and b (offset) values
        Δ-change (X-b)/b scaled to %, ppm, or ppb  User settable b (reference) value
        Null (X-b)  User settable b (reference) value
        Statistics 1 Mean, standard deviation, Max, Min, Peak-to-Peak, count Mean, standard deviation, Allan deviation2,  Max, Min, Peak-to-Peak, count
        Limit test 3 Displays PASS/ FAIL message based on user defined Hi/ Lo limit values.
        Operation Individual and simultaneous operation of smoothing, scaling, statistics, and limit test
        Graphical display selections
        Digits Numeric result with input level shown
        Trend Strip chart (measurements vs. readings over time)  Selectable screen time
        Histogram Cumulative histogram of measurements; manual reset  HI/LO limit lines shown  Selectable bin and block size
        Limit test Measurement result, tuning bar-graph, and PASS/FAIL message
        Markers Available to read values from trend & histogram displays
        Memory
        Data log Guided setup of # of readings/counts; automatically saves acquisition results to non-volatile memory
        Instrument state Save & recall user-definable instrument setups
        Power-off Automatically saved
        Power-on Selectable power-on to reset (Factory), power-off state or user state
        Volatile reading memory 1 M readings (16 MBytes)
        Non-volatile internal memory 75 Mbytes (up to 5 M readings)
        USB file system Front-panel connector for USB memory device
        Capability Store/recall user preferences and instrument states, reading memory, and bit map displays
        Speed Characteristics4  (meas)
        53210A 53220A 53230A
        Measurement/IO timeout (nom) no timeout or 10 ms to 2000 s, in 1 ms steps
        Auto-level speed Slow mode (50 Hz): 350 ms (typ)  Fast mode (10 kHz): 10 ms (typ)
        Configure-change speed Frequency, Period, Range, Level: 50 ms (typ)
        Single measurement throughput5: readings/s 
        (time to take single measurement and transfer from volatile reading memory over I/O bus)
        Typical (Avg. using READ?):
        LAN (VXI-11) 110 120
        LAN (sockets) 200 200
        USB 200 200
        GPIB 210 220
        Optimized (Avg. using *TRG;DATA:REM? 1, WAIT):
        LAN (VXI-11) 160 180
        LAN (sockets) 330 350
        USB 320 350
        GPIB 360 420
        Block reading throughput5: readings/s (Example uses: 50,000 readings) 
        (time to take blocks of measurements and transfer from volatile reading memory over I/O bus)
        Typical (Avg. using READ?):
        LAN (VXI-11) 300 990 8700
        LAN (sockets) 300 990 9700
        USB 300 990 9800
        GPIB 300 990 4600
        Optimized (Avg. using *TRG;DATA:REM? 1, WAIT):
        LAN (VXI-11) 300 990 34700
        LAN (sockets) 300 990 55800
        USB 300 990 56500
        GPIB 300 990 16300
        53210A 53220A 53230A
        Maximum measurement speed to internal non-volatile memory6: (readings/s)
        Timestamp N/A N/A 1,000,000
        Frequency, period, totalize 300 1000 75000
        Frequency ratio 44000
        Time interval, rise/fall, width,  burst width N/A 90000
        Duty cycle N/A 48000
        Phase N/A 37000
        PRI, PRF N/A N/A 75000
        Transfer from memory to PC via:
        LAN (sockets) 600,000 readings/sec
        LAN (VXI-11) 150,000 readings/sec
        USB 800,000 readings/sec
        GPIB 22,000 readings/sec
        1. These Math operations do not apply for Continuous Totalize or Timestamp measurements.
        2. Allan Deviation is only calculated for Frequency and Period measurements.
        Allan Deviation calculation is available on both 53220A and 53230A, it is only gap free on 53230A.

        3. Limit Test only displays on instrument front panel.
        No hardware output signal is available.

        4. Operating speeds are for a direct connection to a >2.5 GHz dual core CPU running Windows XP Pro SP3 or better with 4 GB RAM and a 10/100/1000 LAN interface.
        5. Throughput data based on gate time.
        Typical reading throughput assumes ASCII format, Auto level OFF with READ? SCPI command.
        For improved reading throughput you should also consider setting (FORM:DATA REAL,64), (DISP OFF), and set fastest gate time available.

        6. Maximum 53230A rates represent >= 20 MHz input signals with min gate times, no delays or holdoffs.
        Measurement rates for the 53210A & 53220A are limited by min gate time.
        Actual meas rates are limited by the repetition rate of the input being measured. 
        General Characteristics (nom)
        53210A 53220A 53230A
        Warm-up time 45-minutes
        Display 4.3" Color TFT WQVGA (480 x 272), LED backlight
        User interface and help languages English, German, French, Japanese, Simplified Chinese, Korean
        USB flash drive FAT, FAT32
        Programming language
        SCPI 532xx Series and 53131A/53132A/53181A Series compatibility mode
        Programming interface
        LXI-C 1.3 10/ 100/ 1000 LAN (LAN Sockets and VXI-11 protocol)
        USB 2.0 device port USB 2.0 (USB-TMC488 protocol)
        GPIB interface GPIB (IEEE-488.1, IEEE-488.2 protocol)
        Web user interface LXI Class C Compatible
        Mechanical
        Bench dimensions 261.1 mm W x 103.8 mm H x 303.2 mm D
        Rack mount dimensions 212.8 mm W x 88.3 mm H x 272.3 mm D (2U x 1/2 width)
        Weight 3.9 kg (8.6 lbs) fully optioned  3.1 kg (6.9 lbs) without Option 300 (battery option)
        Environmental
        Storage temperature - 30 °C to +70 °C
        Operating environment EN61010, pollution degree 2; indoor locations
        Operating temperature 0 °C to +55 °C
        Operating humidity 5% to 80% RH, non-condensing
        Operating altitude Up to 3000 meters or 10,000 ft
        Regulatory
        Safety Complies with European Low Voltage Directive and carries the CE-marking  Conforms to UL 61010-1, CSA C22.2 61010-1, IEC 61010-1:2001, CAT I
        EMC Complies with European EMC Directive for test and measurement products.  IEC/EN 61326-1  CISPR Pub 11 Group 1, class A  AS/NZS CISPR 11  ICES/NMB-001  Complies with Australian standard and carries C-Tick Mark  This ISM device complies with Canadian ICES-001  Cet appareil ISM est conforme a la norme NMB-001 du Canada
        Acoustic noise (nom) SPL 35 dB(A)
        Line power
        Voltage 100V - 240V ± 10%, 50-60 Hz ±5%  100 V - 120 V, 400 Hz ±10%
        Power consumption 90 VA max when powered on or charging battery;  6 VA max when powered off/standby
        53210A 53220A 53230A
        Battery (Option 300)
        Technology Internal lithium ion battery with integrated smart battery monitor & charger  Use for maintaining timebase accuracy or environments with unstable AC power
        Operating temperature limits 0 to 55 °C. Battery will only charge under 35 °C.  Instrument running on battery power above 50 °C will turn off to minimize battery capacity degradation.
        Storage temperature limits -10 °C to 60 °C.  Extended exposure to temperatures above 45 °C could degrade battery performance and life
        Operating time (typ) 3 hours when operated below +35 °C
        Standby time - OCXO powered (typ) 24 hours
        Recharge time (typ) 1 4 hours to 100% capacity; 2 hours to 90% capacity
        Accessories included
        CD User's guide, SCPI/programmers reference, programming examples, drivers (IVI-COM, LabView), IO library instructions
        Cables Power line cord, 2 m USB 2.0
        Timebase
        Timebase Uncertainty = ( Aging + Temperature + Calibration Uncertainty )
        Timebase Standard  tcxo Option 010  Ultra-High Stability OCXO
        Aging 1 (spec)
        24-hour, Tcal ±1 °C ± 0.3 ppb (typ)
        30-day, Tcal ±5 °C ± 0.2 ppm (typ) ± 10 ppb
        1-yea∣-, tcal ±5 °C ± 1 ppm ± 50 ppb
        2-yea∣-, tcal ±5 °c ± 0.5 ppm ± 25 ppb
        Temperature (typ) 2
        0 °C to Tcal - 5 °C and Tcal + 5 °C to 55 °C ± 1 ppm ± 5 ppb
        Calibration uncertainty 3
        Initial factory calibration (typ) ± 0.5 ppm ± 50 ppb
        Settability error ± 0.1 ppb ± 0.01 ppb
        Supplemental characteristics (typ)
        5-min. warm-up error 4 ± 1 ppm ± 10 ppb
        72-hour retrace error 5 < 50 ppb < 2 ppb
        Allan deviation τ = 1s 1 ppb 0.01 ppb
        1. All Timebase Aging Errors apply only after an initial 30-days of continuous powered operation and for a constant altitude ±100 m.
        After the first 1-year of operation, use ½ x (30-day and 1-year) aging rates shown.

        2. Additional temperature error is included in the time base uncertainty equation if the temperature of the operating environment is outside the TCAL ± 5 °C
        (calibration temperature) range. The error is applied in its entirety, not per °C.

        3. Initial factory calibration error applies to the original instrument calibration upon receipt from the factory.
        This error is applied until the first re-calibration occurs after shipment.
        Settability error is the minimum adjustment increment (resolution) achievable during electronic adjustment (calibration) of the instrument.
        It is added to the uncertainty of your calibration source.

        4. Warm-up error applies when the instrument is powered on in a stable operating environment.
        5. When moved between different operating environments add the Temperature error during the initial 30-minutes of powered operation
        6. Retrace error may occur whenever the instrument line-power is removed or whenever the instrument is battery operated and the battery fully discharges.
        Retrace error is the residual timebase shift that remains 72-hours after powering-on an instrument that has experienced a full power-cycle of the timebase.
        Additional frequency shift errors may occur for instrument exposure to severe impact shocks > 50 g. 
        Документы
        Keysight 53210A 53220A 53230A Specification
        1023.9 Кб
        Описание
        Опции Описание
        53220A-106 Add Channel 3 - 6 GHz CW
        53220A-115 Add Channel 3 - 15 GHz CW
        53220A-010 Ultra High-stability OCXO Timebase
        53220A-201 Add rear panel parallel inputs for Ch 1 and Ch 2
        53220A-202 Channel 3 input - front Type-N
        53220A-203 Move Channel 3 input to rear panel - SMA
        53220A-300 Internal lithium ion battery/charger for unstable AC power or timebase stability
        53220A-A6J ANSI Z540-1-1994 Calibration
        53220A-ABA English Printed Manual Set (full documentation on CD-ROM)
        53220A-ABJ Japanese Printed Manual Set (full documentation on CD-ROM)
        53220A-PLG Continental European power cord - Only For EU DISTR W MULT PWR Cord Standards
        1CM011A Rackmount Flange Kit 88.1mm H (2U) - Two Flange Brackets, Lock Link Kit
        34131A Transit Case
        34190A Rackmount Kit
        34191A 2U Dual Flange Kit
        34194A Dual Lock Link Kit
        N2870A Пассивный пробник, 1:1, 35 МГц, 1,3 м
        N2873A Пассивный пробник, 10:1, 500 МГц, 1,3 м
        N2874A Пассивный пробник, 10:1, 1,5 ГГц, 1,3 м
        R-50C-011-3 Calibration Plan - Return to Keysight - 3 years
        R-50C-011-5 Calibration Plan - Return to Keysight - 5 years
        R-50C-011-MU-3 Keysight Calibration + Uncertainties - 3 years
        R-50C-011-MU-5 Keysight Calibration + Uncertainties - 5 years
        R-50C-016-3 Keysight Calibration + Uncertainties + Guardbanding - 3 years
        R-50C-016-5 Keysight Calibration + Uncertainties + Guardbanding - 5 years
        R-50C-066-1 Poverka Service - Single Event (for use in Russia only)
        R-50C-066-3 Poverka Service - 3 Years (for use in Russia only)
        R-50C-066-5 Poverka Service - 5 Years (for use in Russia only)
        R-51B-001-5Z Extended Warranty - Return to Keysight - 5 years
        Модели
        Модели Описание
        53220A Универсальный частотомер/таймер 350 МГц ВЧ-канал, разрешение 12 разрядов, 100 пс

        Поделиться
        Назад к списку
        • Измерительное оборудование
          • Анализаторы качества электроснабжения
          • Анализаторы полупроводников
          • Анализаторы спектра/сигнала
          • Анализаторы фазового шума
          • Анализаторы чистоты воздуха
          • Анализаторы электрических цепей
          • Антенные устройства
          • Виброанализаторы
          • ВЧ-вольтметры
          • Генераторы сигналов
          • Измерители LCR
          • Измерители коэффициента шума
          • Измерители мощности
          • Измерители сопротивления заземления
          • Измерительные аттенюаторы
          • Измерительные приемники
          • Имитаторы сигналов GPS и ГЛОНАСС
          • Калибраторы
          • Логические анализаторы
          • Мегаомметры
          • Мультиметры
          • Осциллографы
          • Пирометры
          • РЧ компоненты
          • Тахометры
          • Термометры
          • Тестеры авионики
          • Тестеры аккумуляторных батарей
          • Тестеры АФУ
          • Тестеры радиосвязи
          • Тестеры фотоэлектрических систем
          • Тестеры электробезопасности
          • Тестирование сетей WPAN/WLAN/4G/5G
          • Токосъемники
          • Усилители мощности
          • Частотомеры
          • Эквиваленты сети LISN
          • Источники питания
          • Принадлежности
        • Испытательное оборудование
        • Оборудование для испытаний на ЭМС
        • Тестирование оптоволокна
        • Технологическое оборудование
        • Спутниковое оборудование
        Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос по товару
        Запросить предложение
        Доставка в любой регион РФ
        Цель нашей компании —
        предложение широкого ассортимента товаров и услуг на постоянно высоком качестве обслуживания.
        Компания
        О компании
        Реквизиты
        Производители
        Наши контакты

        +7 (495) 956-20-22
        Пн–Чт: 9 - 18, Пт 9 - 17
        Сб–Вс: выходные дни
        117628, г. Москва, вн. тер. г. муниципальный округ Северное Бутово, ул. Куликовская, д. 12, помещ. 22/5 (офис 634)
        info@cdip.ru
        Яндекс.Метрика © 2026 Все права защищены.
        Версия для печати
        0

        Корзина

        Ваша корзина пуста

        Исправить это просто: выберите в каталоге интересующий товар и нажмите кнопку «В корзину»
        В каталог
        Продолжая использовать сайт, вы соглашаетесь с политикой использования файлов cookie.